21. Atlas of backscattering Kikuchi diffraction patterns
پدیدآورنده : Dingley, David J.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Materials - Microscopy , Scanning electron microscopy , Diffraction patterns , Crystallography
رده :
TA
417
.
23
.
D56
22. Basic malaria microscopy
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه الزهراء (س) (تهران)
موضوع : ، Malaria-- Diagnosis-- Laboratory manuals,، Microscopy-- Laboratory manuals,، Teaching materials
رده :
RA
10
.
B37
23. Characterization of Metals and Alloys
پدیدآورنده : edited by Ramiro Perez Campos, Antonio Contreras Cuevas, Rodrigo A. Esparza Munoz
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : ، Materials science,، Metals,، Microscopy,، Spectroscopy
رده :
TN
690
.
R34
2017
24. Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM)
پدیدآورنده : / Yonghua Rong
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد و انتشارات دانشگاه تبریز (آذربایجان شرقی)
موضوع : Nanostructured materials - Nondestructive testing,Electron microscopy
رده :
TA417
.
23
.
R66
2012
25. Developments in materials characterization technologies: sympsoium held 23 and 24 July 1995, during the 28th Annual Technical Meeting of the International Metallographic Society, Albuquerque, New Mexico, USA
پدیدآورنده :
موضوع : Congresses ، Materials-- Testing,Congresses ، Non-destructive testing,Congresses ، Materials-- Microscopy,Congresses ، Metallography
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
26. Developments in materials charactrization technologies: symposium held 23 and 24 July 1995, during the 28th Annual Technical Meeting of the International Metallographic Society, Albuquerque, New Mexico, USA
پدیدآورنده : edited by George F. Vaner Voort, John J. Friel
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Materials - Testing - Congresses , Non-destructive testing - Congresses , Materials - Microscopy - Congresses
رده :
TA
410
.
D48
1996
27. Electron Microscopy and Multiscale Modeling: Proceedings of The EMMM-2007 International Conference
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه دانشگاه آزاد اسلامی واحد قم (قم)
موضوع : Materials- Microscopy- Congresses,Electron microscopy- Congresses
رده :
TA
.
E426
417
.
23
2007
28. Electron Paramagnetic Resonance Spectroscopy
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Physics; Spectroscopy and Microscopy; Atomic/Molecular Structure and Spectra; Magnetism, Magnetic Materials; Crystallography and Scattering Methods; Physical Chemistry; Characterization and Evaluation of Materials
29. Electron Paramagnetic Resonance Spectroscopy
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Physics; Spectroscopy and Microscopy; Atomic/Molecular Structure and Spectra; Magnetism, Magnetic Materials; Crystallography and Scattering Methods; Physical Chemistry; Characterization and Evaluation of Materials
30. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده : [edited by]& Adam Schwartz, Mukul Kumar, David Field
موضوع : materials microscopy
۳ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.
31. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده :
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه اراک (مرکزی)
موضوع : Materials -- Microscopy,Electrons -- Backscattering,Electrons -- Diffraction,Scanning electron microscopy
رده :
620
.
11299
E38
32. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Materials ; Microscopy. ; Scanning electron microscopy. ; Crystallography. ; Elektronenbeugung. ; swd. ; Kristallographie. ; swd. ; R?ckstreuung. ; swd. ;
33. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده :
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Materials- Microscopy,Scanning electron microscopy,Crystallography
رده :
TA417
.
23
.
E419
2000
34. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده : Loretto, M. H.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Materials - Analysis , Electron beams - Industrial applications , Electron microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
L67
1994
35. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده : Loretto, M. H.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید باهنر کرمان (کرمان)
موضوع : Analysis ، Materials,Industrial applications ، Electron beams,، Electron microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
L67
1994
36. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده : / M.H. Loretto
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Materials- Analysis,Electron beams- Industrial applictions,Electron microscopy
رده :
TA417
.
23
.
L67
1994
37. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده : Loretto, M. H.
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع : ، Materials- Analysis,، Electron beams- Industrial applications,، Electron microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
L67
1994
38. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده : Loretto, M. H.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Analysis ، Materials,Industrial applications ، Electron beams,، Electron microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
L67
1994
39. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده :
موضوع : Materials- Analysis,Electron beams- Industrial applications,Electron microscopy
۷ نسخه از این کتاب در ۶ کتابخانه موجود است.
40. Electron microscope specimen preparation techniques in materials
پدیدآورنده : THOMPSON-RUSSELL,K C
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : ELECTRON MICROSCOPY-TECHNIQUE , MOUNTING OF MICROSCOPE SPECIMENS , MATERIALS-MICROSCOPY
رده :
QH
212
.
E4
T46
